ISSN: 2155-9872

జర్నల్ ఆఫ్ ఎనలిటికల్ & బయోఅనలిటికల్ టెక్నిక్స్

అందరికి ప్రవేశం

మా గ్రూప్ ప్రతి సంవత్సరం USA, యూరప్ & ఆసియా అంతటా 3000+ గ్లోబల్ కాన్ఫరెన్స్ ఈవెంట్‌లను నిర్వహిస్తుంది మరియు 1000 కంటే ఎక్కువ సైంటిఫిక్ సొసైటీల మద్దతుతో 700+ ఓపెన్ యాక్సెస్ జర్నల్‌లను ప్రచురిస్తుంది , ఇందులో 50000 మంది ప్రముఖ వ్యక్తులు, ప్రఖ్యాత శాస్త్రవేత్తలు ఎడిటోరియల్ బోర్డ్ సభ్యులుగా ఉన్నారు.

ఎక్కువ మంది పాఠకులు మరియు అనులేఖనాలను పొందే ఓపెన్ యాక్సెస్ జర్నల్స్

700 జర్నల్స్ మరియు 15,000,000 రీడర్లు ప్రతి జర్నల్ 25,000+ రీడర్లను పొందుతున్నారు

ఇండెక్స్ చేయబడింది
  • CAS మూల సూచిక (CASSI)
  • ఇండెక్స్ కోపర్నికస్
  • గూగుల్ స్కాలర్
  • షెర్పా రోమియో
  • అకడమిక్ జర్నల్స్ డేటాబేస్
  • J గేట్ తెరవండి
  • జెనామిక్స్ జర్నల్‌సీక్
  • JournalTOCలు
  • పరిశోధన బైబిల్
  • చైనా నేషనల్ నాలెడ్జ్ ఇన్‌ఫ్రాస్ట్రక్చర్ (CNKI)
  • ఉల్రిచ్ పీరియాడికల్స్ డైరెక్టరీ
  • ఎలక్ట్రానిక్ జర్నల్స్ లైబ్రరీ
  • RefSeek
  • Directory of Research Journal Indexing (DRJI)
  • హమ్దార్డ్ విశ్వవిద్యాలయం
  • EBSCO AZ
  • OCLC- వరల్డ్ క్యాట్
  • విద్వాంసుడు
  • SWB ఆన్‌లైన్ కేటలాగ్
  • వర్చువల్ లైబ్రరీ ఆఫ్ బయాలజీ (విఫాబియో)
  • పబ్లోన్స్
  • యూరో పబ్
  • ICMJE
ఈ పేజీని భాగస్వామ్యం చేయండి

నైరూప్య

Enhancement of Intact- Ion Yield and Surface Sensitivity by Argon-cluster SIMS

Kozo Mochiji

In secondary ion mass spectrometry (SIMS) of organic samples, damages induced by the primary ions are crucial. The mass of intact ions (secondary ions not dissociated) currently detectable is only as high as the 1,000 Da at best, which prevents the technique from being extended to apply to organic molecules with larger mass. We developed SIMS equipment in which the primary ions were argon cluster ions having a kinetic energy per atom controlled down to 1eV. By applying this equipment to several peptides and proteins, the intensity of fragment ions was decreased by a factor of 102 when the kinetic energy per atom was decreased below 5 eV, and intact ions of cytochrome C (molecular weight: 12,327) and chymotrypsin (molecular weight: 25,000) were detected without using any matrix. Furthermore, we found that argon cluster ions sputter ultra thin layer (~ 2 nm) of organic material and enhance surface sensitivity in SIMS. Based upon the above results, a future prospect of argon-cluster projectile for SIMS is discussed.